一、 电容器损耗与检测
电容器的损耗由介质损耗和金属部分损耗组成。介质损耗是由介质本身决定，即由介质薄膜的性能——漏导引起的。当使用频率很低时，电容器的损耗主要由介质损耗决定。其值随频率上升而成反比下降。
（漏导：任何电介质都不是理想的绝缘体，在电场的作用下，总有一定的电流流过，这种电流很小，称作漏导电流或漏导。）
金属部分损耗，其公式为：tgδ=ωcRs=2πfcRs(R为电容器等效串联电阻)，因而当使用频率很高时，金属部分损耗为主要损耗。Rs由电容器引出线电阻、极板电阻、极板与引出线之间连接引起的接触电阻总和。如果连接不好，接触电阻较大，那么电容器在高频情况下的损耗就很大。使得电容器在高频情况下使用，发热严重，导致损坏。因而使用频率较高时，须用高频测试，剔除端面接触不良者。尽量消除使用时的潜在危险。而用低频1KHz就不能很好有效地剔除接触不良者。况且，CBB类1KHz损耗指标为≤0.0003，数值偏小，有时测试仪表之间的误差可能达到0.0002。因而，建议对用在使用频率较高的灯上时，至少用10KHz测试，指标≤0.0010，更有把握。我公司在给上海光达照明公司、深圳垅运（中电）照明公司等生产灯和镇流器的厂家供货，都用10KHz检测，多年来，保证了它们完好无损的使用。
二、电容器耐压与检测
薄膜电容器介质的厚度是以其额定电压大小来选取的，即介质厚度决定着额定电压的大小，其工作电压，在频率适宜的情况下，一般应不大于额定电压。而瞬时承受电压，即耐电压，按国际国内标准大测试电压为2倍电压，重复进行耐电压试验对电容器有损伤，因而过高的耐电压超过介质薄膜的承受有力，会损伤介质对电容器也是不利的。经过我们多年的试验，这些潜在的危险，会减少其使用寿命。因而建议客户给出的电容器耐电压指标应不大于2倍。而且在这种条件下，电容器厂家为了更好地保证客户使用，还要高于2倍进行内控，但这些余量我们也是靠增加介质厚度来保证的。如果客户给大于2倍甚至3倍的指标，那我们仍要加严，这样无限制的加下去，对电容器是一种损害，对照明产品也是一种损害，即使当时生产、检测过程中没有体现出来，但是却为日后用户的使用埋下了隐患，这对电容器供应商，照明产品制造商及消费者三方都是不利的。因为我们共同的目标就是满足消费者的使用。
三、金属化内串电容器与箔式内串电容器的区别
1.电容器的好坏，除用容量、损耗、绝缘、耐压四个基本参数衡量检测外。它的耐脉冲电压冲击和承受电流大小等性能也是需要考虑的。在灯的电路中使用的电容器这两点更需要注意。鉴于这两点性能的考虑，脚距为10的体积较小的金属化内串不好脚距为15体积较大的箔式内串的结构，因为金属化内串结构的极板与引出的连接端面是介质薄膜，而该连接部位的接触电阻较大，加脉冲时，瞬间流过的电流很大，引起发热，而塑料薄膜介质不耐热，遇热收缩，造成端面接触恶化，使等效串联电阻更大，如此，恶性循环，会很快使薄膜电容失效，而铝箔做端面的肉串结构，端面极板与引出线相连接的部分是金属铝，金属耐热，因而加上脉冲，有大电流流过时，产生的热量不会使其收缩，仍能保证端面良好的接触。所以，从耐脉冲击角度考虑，箔式内串分压结构优于金属化内串结构。
2.电流流过的路径是极板、接触端面、引出线这几个金属部分及其连接处，在引出线相同，不考虑接触电阻的情况下，金属化电极的电阻要大于箔式电极电阻两个数量级。因为金属化电极是在介质薄膜表面蒸镀上一层薄薄的金属铝，其厚度不过0.05～0.1um。而铝箔的厚度为6um，因而，金属化电极极电阻要远大于箔式电极的电阻，使得金属部分的损耗大于箔式。尤其是频率较高时，在流过电流相同时，金属化电极发热远大于箔式电极。因而使用频率较高、电压较大时，不宜采用金属内串结构的电容。
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